光學(xué)窗口片是經(jīng)過(guò)磨、拋光后形成相互平行的兩個(gè)表面的光學(xué)玻璃片。它們用在兩種環(huán)境間時(shí)可作為保護(hù)原件，然而它們對(duì)通過(guò)的可見(jiàn)光幾乎沒(méi)有影響 。常用的鍍膜有減反射膜（AR）和防刮傷膜（AS），也可按照客戶需求改善更好的效果，可以防水防塵防刮傷，按照客戶要求定制。光學(xué)窗口片是光學(xué)系統(tǒng)的前置保護(hù)片，主要可用于CCD/CMOS芯片的封裝、光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器及數(shù)碼設(shè)備的保護(hù)、激光二極管上的蓋片等。

　　光學(xué)窗口片檢測(cè)的基本原理

　　光學(xué)窗口片中的各種雜質(zhì)，在光學(xué)特性上必然與光學(xué)窗口片本身有差異。當(dāng)光線入射光學(xué)窗口片后，各種雜質(zhì)會(huì)在反射、折射等方面表現(xiàn)出與周?chē)鈱W(xué)窗口片不同的異樣。例如，當(dāng)均勻光垂直入射光學(xué)窗口片時(shí)，如光學(xué)窗口片中沒(méi)有雜質(zhì)，出射的方向不會(huì)發(fā)生改變，所探測(cè)到的光也是均勻的；當(dāng)光學(xué)窗口片中含有雜質(zhì)時(shí)，出射的光線就會(huì)發(fā)生變化，所探測(cè)到的圖像也要隨之改變。由于雜質(zhì)的存在，在其周?chē)桶l(fā)生了應(yīng)力集中及變形，在圖像中也容易觀察。若遇到光透射型缺陷（如裂紋、氣泡等），光線在該缺陷位置會(huì)發(fā)生折射，光的強(qiáng)度比周?chē)囊螅蚨鄼C(jī)靶面上探測(cè)到的光也相應(yīng)增強(qiáng)；若遇到光吸收型（如砂粒等）雜質(zhì)，則該缺陷位置的光會(huì)變?nèi)酰鄼C(jī)靶面上探測(cè)到的光比周?chē)墓庖?。分析相機(jī)采集到的圖像信號(hào)的強(qiáng)弱變化、圖像特征，便能獲取相應(yīng)的缺陷信息。